Page Areas:



Current Submenu:


Position Indication:

Content

IEEE best paper of the year award 2006

Dipl.-Ing. Stefan Johann Rupitsch

Verliehen im Rahmen der IEEE - IMTC 2006 - Instrumentation and Measurement Technology Conference Sorrento, Italy, 24.-27. April 2006, gemeinsam mit den Co-Autoren B. Zagar und F. Maier für die Veröffentlichung: "Synthetic Aperture Focusing Technique in High-Frequency Ultrasound Imaging to Locate Layer Delamination".